FISCHERSCOPE MMS PC2
可以用在任何对质量要
求很高的地方：来料检测、成品检测及生产过程中的抽样或例行检测，并且适用于各个行业。
得 益于它的现代设计，MMS PC2 能够在根据您的需要进行调整或扩展。无论涂镀层厚度、
电导率或是铁素体含量，您总是可以轻松使用MMS PC2进行正确和精准的测量。
MMS PC2 – 一台适用于各种应用的测量仪器。 德国菲希尔FISCHERSCOPE MMS PC2涂层测厚仪 德国菲希尔FISCHERSCOPE MMS PC2涂层测厚仪 涂镀层厚度测试
可以对以下材料组合进行涂镀层的厚度测试:
• 金属材料上的大多数涂镀层
• 双涂层系统：油漆/锌/铁基材
• 非导电材料上的金属镀层：如PCB上的铜层
• 有机涂层，如油膜或脂膜
材料测试
• 非铁磁性金属的电导率测试
• 检测奥氏体或双相钢中的铁素体含量，判断焊缝质量
适用于各行各业
• 汽车工业
• 电子行业
• 涂料工业
• 涂镀层技术
• 贵金属、手表、珠宝
• 材料分析与材料测试
适用于各种场合
• 来料和出厂检验中的质量控制
• 生产过程中的抽样或例行检测
• 持续生产控制
• 可集成在质量管理系统和公司网络中
手动或自动测量
• 探头接触后的自动触发测量
• 按下按键或通过外部触发
• 通过预定义的时间间隔来测量
• 通过电动支架或可编程XY测量平台进行半自动测量
• 通过PLC单元自动测量
• 生产车间中的自动化测量
模块化设计
• 由不同测试方法组成的多达八个测量模块，可以用于涂镀层厚度测量、电导率测试及铁素体含量测试。
使用手持式探头Z15NG-TC测量薄的有机涂层，如油
膜
根据beta背散射法，通过带有beta放射源的手持式探头进行测量，集成的温度传感器可以自动补偿beta射线在不同温度空气中的衰减。
使用V2EGA06H探头固定在马达驱动的测量台上来测量活塞上的镀铬层厚度
通过马达驱动的V12 MOT测量台可精确测量小尺寸样件
FISCHERSCOPE MMS PC2
®自动控制支架的上下运动及测量.
来料检测
用于来料检测的测量单元带有多个测量模块和探头，
将它装配在可移动桌面上来测量不同的零件
阳极氧化膜测量
为了测量不同几何形状的零件，测量单元可以同时装配多种探头，避免了反复更换探头的繁琐。
当选 择合适的应用程式时，对应的探头即自动激活。铝阳极氧化膜的厚度测量及铝制品的电导率测试，
用于寻找其颜色差异的原因。
配置
• SIGMASCOPE® 模块配ES40探头或ES24探头可进行电导率测试
• PERMASCOPE® 模块配内腔测量探头FAI3.3-150或曲率补偿探头FTD3.3 可测量氧化膜厚度
• 加配V12 MOT测量头用于大量零件的半自动化测量
漆层的测量
用于以下应用的漆层厚度测量单元：
• 非铁金属上的漆层厚度测量
• 铁或钢上的漆层厚度测量
• 双涂层测量，如铁或钢上镀锌再涂漆，可以同时测
量两层的厚度
配置
• PERMASCOPE模块配FD13H探头
• PHASCOPE DUPLEX模块配ESG20探头
• 加配V12 MOT测量台用于钢板上油漆层自动扫面测量
印制电路板(PCB)的测量
适用于PCB上的几乎所有测量应用，对于某些情况下的超薄镀层，我们也建议使用我们的X射线荧光测 厚仪类的仪器来测量。
搭配
• SIGMASCOPE PHASCOPE
2模块配ESL080V 探头用于测量孔铜的厚度
• SIGMASCOPE PHASCOPE
1 模块配ESD20 Cu
探头用于测量阻焊层下面的铜层厚度
• SR-SCOPE® 模块配ERCU-D10探头用于测量多层板表面铜箔厚度厚度厚度而不受中间其它铜层 的影响
• PERMASCOPE® 模块配FTA3.3-5.6HF探头用于测量铜箔上的阻焊涂层和和保护性涂层的厚度，
配FKB10-OD 探头用于测量PCB板的总厚度
电镀层测量
用于测量不同形状、不同材料组成以及不同表面处理状况的零件镀层厚度，是电镀公司用户的典型应用，
即使是在线路或粗糙表面也可以得到很好的测量重复性。
配置
• PERMASCOPE® 模块配FGA06HMC探头用于测量小尺寸零件，配F20H探头用于测量粗糙表面，
配V7FKB4探头用于测量磷化膜
• SIGMASCOPE/PHASCOPE 1模块配ESD20 Zn探头或ESD2.4 探头用于测量铁或铸铁零件上的镀铜或镀锌层。
• 加配V12 MOT或V12 BASE测量头用于在小尺寸零件如螺母或螺丝上的测量。
硬件
具备8个模块插槽的仪器基座，可用于不同的测量方法
测量方法
• 磁性法 (DIN EN ISO 2178)
• 磁感应法(DIN EN ISO 2178, ASTM D7091)
• 电涡流法(DIN EN ISO 2360, ASTM D7091)
• 涡流相位法(DIN EN ISO 21968)
• 微电阻法(DIN EN 14571)
• Beta背散射法 (DIN EN ISO 3543, ASTM B567a)
测量值
涂镀层厚度，电导率，铁素体含量，温度
测量探头
模块化的插槽适用于所有FISCHER探头，*多可同时连接 8 个探头
软件
• 基于WindowsCE软件程序
• 软件支持多种欧洲和亚洲语言：德语，英语，法语，意大利语，西班牙语，捷克语，波兰语，土耳其语， 中文和日语
• 通过触屏、鼠标或键盘(USB)输入
• 应用程式的存储，防止误操作的程序访问权限设定，上下限监控，离奇值控制，校准以及数据分组
测量结果存储
仪器的测量数据存储在应用程式中，此外还包括以下存储信息：
所有的设置信息，测量组信息，日期，时间及校准数据。
• 默认模式：测量数据存储在应用程式的连续数组中，根据指定组宽n来对测量结果自动分组，并自动计算组平均值
• 矩阵模式：测量数据存储在应用程式设定的矩阵数组中，可按照特定的顺序手动或自动地改变组以生成期望的组
多通道测量
通过*多8个探头在同一测量程式中同时显示并存储测量结果。
测量结果的显示
• 数字显示：测量结果以列表显示，并重点放大显示*后一次测量结果
• 上下限显示：在指定极限值内将测量值以图形化显示
• 过程控制图(SPC)：以x/R或x/s图表的形式显示控制图表
• 简单显示：*后一次测量数值的显示
• 测量值单位可选
– 涂镀层厚度：公制或英制
– 铁素体：Fe%或WRC-FN
– 电导率：% IACS或MS/m
– 温度：°C or °F
– 其它测量单位的自定义，如g/m2
• 测量结果显示分辨率可选
屏幕
大尺寸高分辨率彩色触屏。170 mm x 130 mm (W x H)，分辨率800 x 600
测量数据获取
• 探头接触时自动获取
• 通过外部触发获取
• 连续测量模式时通过按键获取
• 探头接触或外部触发后，通过设定的时间间隔获取
评估
通过平均值、标准偏差、变异系数、*大值和*小值、测量次数、单一值和组统计值、过程能力因素计算等对一系列测量数
据进行统计评估。 可按需得到多个数据组的Cp和Cpk；直方图，累积概率图， FDD图等。
尺寸(W x H x D)
360 mm x 170 mm x 270 mm
重量 (全配时)
约 5 kg
环境温度
+10°C ... +40°C
接口（标准）
• 1 x COM1 – RS232接口
• 1 x LAN 网络接口
• 4 x USB 用于键盘、鼠标及打印机的连接
• 1 x USB 用于电脑的连接
• 带有上下超限信号输出的多功能接口，外部触发接口
• 连接插座，如外部触发按钮以获取测量数据
• 电源适配器AC 12V/1.2 A
可连接打印机
通过USB (兼容2.0)连接的打印机， 具备以下打印机语言仿真： PCL, ESC/P
文件
• 利用打印模板输出单一数值、组数据及全部测量数据和特定公差。输出SPC图，直方图，累积概率图和FDD图
• 具有用户特定信息的打印表格设计。仪器可存储任意数量的打印模板
数据存储
• 仪器内部有256 MB的存储空间
• 外部USB存储
• 网络存储
数据输出
• 通过USB接口在线或离线将测量结果输出到电脑
• 通过RS232接口在线或离线将测量结果输出到电脑
• 以文本文件格式输出结果打印表单，以Q-DAS或HTML格 式导入Excel电子表格的文件
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